Firma confovis, Autor bei News-Blast

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Confovis: 100. Messsystem ausgeliefert

14. Januar 2022

Ende 2021 wurde mit dem AOI System WAFERinspect AOI das insgesamt 100. Messsystem in der 12-jährigen Unternehmensgeschichte der Confovis GmbH an einen Kunden aus dem Halbleiterbereich ausgeliefert. Mit dem WAFERinspect AOI bietet Confovis ein Tool mit automatisierten Wafer-Handling, das neben der Defektinspektion konfokale 3D-Messungen für Halbeiter und MEMS-Anwendungen ermöglicht. Seit 2009 entwickelt und produziert die […]

Confovis erweitert sein Produktportfolio mit dem WAFERinspect AOI

17. November 2020

Optische Technologien Firma confovis

Mit den Messsystem WAFERinspect AOI erweitert Confovis seine WAFERinspect Produktreihe um ein AOI Tool, das Defect Inspection, Defect Review sowie 2D- und 3D-Messungen in einem einzigen System zusammenbringt. Die Defekterkennung und -auswertung wurde in Zusammenarbeit mit der NeuroCheck GmbH umgesetzt. Erkennung von Defekten bis in den sub-µ Bereich dank eines neuen Ansatzes Für die Defekterkennung […]

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