New CIE report on spectroradiometry

Under the scientific direction of Instrument Systems, the Technical Committee TC2-80 of the CIE has prepared a new technical report on the spectroradiometric measurement of optical radiation sources. The document, published as CIE 250:2022, supersedes the almost 40-year-old report CIE 063-1984. Practically oriented, it explains the basic measurement principles and provides practical instructions for the […]

continue reading

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von […]

continue reading

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezialisiert auf die Analyse von VCSEL-Applikationen, wie 3D-Sensing in Smartphones oder LiDAR-Systemen in der Automobilindustrie. Das kosteneffiziente System besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einer […]

continue reading