Als Partner der Halbleiter-Equipment-Industrie sowie von Test-Anbietern und -Anwendern bietet Jenoptik eine neuartige optische Lösung zur Integration in elektrische Prüfkarten an. Die Ultra-fast opto-electronic Probe Card oder auch UFO ProbeTM Card wird zum funktionalen Prüfen von Halbleiterchips mit integrierten optischen Funktionen, sogenannten photonic integrated circuits (PICs), verwendet und ist an Kundenforderungen anpassbar. Mit der neuen […]
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