Polytec stellt zwei neue NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim vor. Eldim entwickelte die Systeme für die Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen. Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Beide Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb des Betrachtungswinkels von ±70° bzw. ±40° […]
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